Растровый электронный микроскоп (РЭМ) или сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) (англ. scanning electron microscope, SEM) — это электронный микроскоп, предназначенный для получения изображения поверхности объекта с высоким (до 0,4 нанометра) пространственным разрешением, также информации о составе, строении и некоторых других свойствах приповерхностных слоёв. Основан на принципе взаимодействия электронного пучка с исследуемым объектом.

Современный РЭМ позволяет работать в широком диапазоне увеличений приблизительно от 3—10 раз до 1 000 000 раз, что приблизительно в 500 раз превышает предел увеличения лучших оптических микроскопов.

Сегодня возможности растровой электронной микроскопии используются практически во всех областях науки и промышленности, от биологии до наук о материалах. Существует огромное число выпускаемых рядом фирм разнообразных конструкций и типов РЭМ, оснащённых детекторами различных типов.

Для всех РЭМ так или иначе требуются специализированные калибровочные пластины с нанесенными на них рисунками и слоями для проверки качества изображения микроскопа. Одну из таких пластинок компании Micro to Nano (https://www.microtonano.com/) мы успешно поставили Заказчику в Москве для калибровки РЭМ Zeiss Sigma.